超纳米压入测试仪 (UNHT)

超纳米压入测试仪是市场上现有的最精准的纳米与超纳米级别的压入测试仪。

纳米压入技术属于最近研究的深度感应压入(DSI)测试的成果。在测试过程中，计算机对针头压入材料过程中的穿透深度与加载载荷进行实时记录，监测数据由坐标曲线形式显示出来进行分析并得出相关结果。这项技术已被广泛的应用于研究材料纳米尺度的机械性质，尤其是材料硬度与弹性模量。

因为我们要测量的深度在纳米尺度，载荷为微牛顿级别，所以仪器上测量深度与载荷的传感器的精度就尤为重要，因为这两者的测量误差直接影响最后的测量结果。CSM的超纳米压入测试仪针对这两方面的测量做出了跨时代的设计，具有超高测试分辨率和超低的热漂移影响。

特点

• 主动参比测量设计
• 超高热稳定性
• 深度与载荷信号的电容传感器测量
• 双压电加载装置(更加可靠的设计)
• 双载荷传感器(闭环力反馈系统)
• 符合国际标准ISO和ASTM
• 集成自动光学测量系统
• 带有反馈系统的载荷加载装置
• 仪器操作系统软件包

选项

• 真空或湿度环境控制
• 原子力显微镜
• 高分辨率工作台(精度0.25微米)
• 高分辨率CCD光学显微镜
• 环境保护罩