Microscope à Force Atomique (AFM)

La Microscopie à Force Atomique (AFM) ou la Microscopie à Champ Proche (SPM) sont des techniques extrêmement précises pour l'analyse de topographie de surface et sont particulièrement propices à la mesure de hauteur. Une sonde très fine (2 à 3 nm à son extrémité) est placée au contact direct de l'échantillon. Cette pointe suit les dénivellations de la surface où elle est promenée. Son fonctionnement est basé sur la détection des forces interatomiques entre la pointe et l'échantillon. Une image tridimensionnelle de la surface est ainsi restituée sous une haute résolution. La technique est particulièrement adaptée à l'analyse des empreintes résiduelles de scratch, d'indentation ou d'autres observations à l'échelle nanométrique.

Spécifications

L'association sur le même instrument de la microscopie optique et de la microscopie à champ proche ouvre de nouvelles perspectives dans la caractérisation de surface :

• analyse optique d'échantillon sur une large surface avec la possibilité d'exploiter une structure spécifique locale sous haute résolution
• analyse de micro et nanostructures
• détermination des rugosités, des profils de matériaux et films minces
• caractérisation de surface sous faible contraste optique
• caractérisation de support sensible et fragile (tissus biologiques, dispositifs médicaux.)

Options :

• mode sans contact
• mode tapping
• microscopie à force latérale
• microscopie à force magnétique
• microscopie à force électrostatique
• mode immergé