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 Der Table Top Nanoindentation Tester (TTX) ist ein neuartiges Prüfgerät für die instrumentierte
Eindringprüfung. Selbst bei knappem Budget ist mit diesem Tischgerät ein komplettes Prüfgerät für die instrumentierte Eindringprüfung darstellbar.
Der neuartige steife Aufbau des TTX wahrt dabei alle Messgenauigkeitsspezifikationen der CSM-Großgeräte bei einer unerreichten Kosteneffizienz.
Der TTX ist speziell für die Anforderungen einer kompromisslosen mechanischen Nano-Härteprüfung mit kleinstmöglichem Platzbedarf konzipiert. Der modulare Aufbau erlaubt sogar eine Anpassung an sehr knappe Investitionsmittel bis hin zum Verzicht auf Motortische (falls z.B. nur homogene Oberflächen geprüft werden sollen).
Mittels TTX sind somit erstmals alle Möglichkeiten der instrumentierten Eindring-prüfung auch für kleinere Budgets erschwinglich. Der im TTX integrierte Nanoindentations-Messkopf bietet dieselben Spezifikationen wie die meisten modernen Großgeräte. Ferner ist das Gerät auch nachträglich aufrüstbar
- bis hin zum Betrieb im optionalen Sinus-Modus (DMA: Dynamic Mechanical Analysis).
Maximale Prüfkraft: 500 mN
Kraftauflösung : 40 nN (0,04 μN)
Maximale Eindringtiefe 200 μm
Wegauflösung 40 pm (0,04 nm)
Der TTX bietet alle Features eines ausgereiften Nano-Indentationsprüfgerätes, wie:
- Standardeindrücke nach DIN EN ISO 14577
- Erweiterte Standardeindrücke (z. B. mit Kriechphasen)
- Zyklische Be- und Entlastungen (z. B. mit steigender Last an einer Stelle)
- Frei programmierbare Belastungszyklen
- Festlegung der Messstellen im Videobild (auch mit variablen Lasten)
- Sinus Modus: Speicher- und Verlustmodul, tiefenabhängige Messwerte, etc
Jedes TTX-Messsystem beinhaltet neben der links abgebildeten Musterkonfiguration noch ein separates Steuergerät, einen modernen Windows-XP-basierten PC mit AD/ DA-Wandlerkarte, einen 17“-Flachbildschirm sowie PC-Peripherie.
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