Rasterkraftmikroskop (AFM Atomic Force Microscope)

Rasterkraftmikroskopie und Rastersondenmikroskopie (AFM, SPM) sind sehr genaue und vielseitige Verfahren zur Messung von Oberflächentopographien und Oberflächenkräften. Eine sehr kleine Nadel wird an der Spitze einer Blattfeder (Cantilever) angebracht. Die Spitze wird auf der Probenoberfläche angesetzt und zeilenweise über die zu untersuchende Oberfläche geführt, wobei durch die Krümmung des Cantilever ein drei dimensionales Bild der gescannten Oberfläche entsteht. Das enstandene Bild besitzt eine extrem hohe Auflösung. Dieses Verfahren ist besonders geeignet zur Abbildung und genauen Vermessung von Eindrücken, Kratzerrückständen oder anderen Oberflächenabweichungen im Nanometerbereich.

Technische Spezifikationen

• Die Kombination von optischer und Rastersondenmikroskopie eröffnet neue Möglichkeiten der quantitativen Oberflächenanalyse
• Optische Untersuchungen großer Oberflächen mit der Möglichkeit, interessante Strukturen mit einer Sub-Nanometer-Auflösung abzubilden
• Analyse von Mikro- und Nanostrukturen
• Strukturbreitenbestimmung
• Untersuchung geätzter Oberflächen und Rauigkeit
• Profilanalyse von Beschichtungen und Dünnschichten
• Erfassung von Oberflächen mit geringem optischen Kontrast
• Charakterisierung schwacher biologischer Gewebe sowie viele weitere Anwendungen in der Material- und Oberflächenforschung

Optionen

• Nicht Kontakt Modus
• Lateralkraftrastermikroskop
• Magnetkraftmikroskop
• Pulsed Force Modus
• EFM Electrostatic Force Microscopy
• Thermisches Rasterkraftmikroskop (SThM)
• Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskop (C-AFM)
• Flüssigkeitszelle